SHPORA.net :: PDA | |
Main FAQ гуманитарные науки естественные науки математические науки технические науки Тонкопленочная технология Тонкогшеночная технология - это совокупность способов получения и обработки тонких (0,01... 1 мкм, не свыше 3 мкм) пленок металлов, диэлектриков и полупроводников при изготовлении ИС, ПП — приборов, коммутационных соединений и монтажных площадок в микросхемах. Основу тонкоппеночных технологий составляют методы получения тонких пленок, которые можно выделить в три класса; • физические методы; * о испар ение в в акууме (термиче ско е, эпектр онно-лучев о е, по ср едств ом эпектр онной б омб ардир овки, и др ); * о ионно е р аспыление (магнетр окно е, ионно лучев о е, и др.); химические методы; * о электрохимическое осаждение; * о осаждение из газовой фазьт с помощью химических реакций; * о термиче ско е выр ащив ание; * о анодирование; и др. комбинационные методы; * о термоионное осаждение; * о плазмохимическое осаждение; * о газовое анодирование; и др. Необходимая конфигурация тонкоппеночных элементов микросхем (их рисунок) создается осаждением через маски, фотолитографией, эпектронопитографией др. способами. В качестве подложек обычно применяют пластинки из стекла, керамики, ситаппов, органических материалов, монокристаллов ПП и др. материалов. Требования подложкам для тонкоппеночных элементов микросхем: • отсутствие пов ерхно стных и внутр енних (о бъ емных) де ф ектов; Ф большое объемное и поверхностное удельное электрическое сопротивление; • вьтс окая теппопр ов одно сть и термо стойко сть; • вьтс окая механиче екая пр очно сть; • идр. Для получения тонких пленок на подложках промышпенно выпускается специальное технологическое оборудование, например: вакуумно-напыпитепьные установки термического испарения и ионного распыления и др. (вакуумная напыпигепьная техника). Зшдечапие: основные электрические характеристики резистивных тонких пленок: поверхностное сопротивление слоя; (10... 1000 Ом/кв); температурный коэффициент сопротивления; (не свыше 10-4 К-1) Зшдечапие: размеры структурных дефектов в тонких пленках могут быть сравнимы с их толщиной, и поэтому существенно влиять на их свойства. Зшдечапие: послойное нанесение тонких пленок различных материалов с одновременным формированием в них пассивных и активных элементов, а также межсоединений, лежит в основе создания интегральных схем. |